日置 HIOKI C測(cè)試儀 3504-60 封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等 高速測(cè)量2ms 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷 對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率